I.C.T- AI-5146W |DIP Máy kiểm tra hệ thống quang học hai mặt trực tuyến AOI

1. Trực tuyến DIP hai mặt AOI để cắm vào sau khi hàn.

2. Tỷ lệ kiểm tra cao và tỷ lệ cảnh báo sai thấp, tự động kiểm tra điện trở vòng màu, tụ điện, diode, ổ cắm, v.v.

3. Loại khuyết tật: sai bộ phận, thiếu bộ phận, phân cực ngược và các khuyết tật khác của phần tử DIP.

4. Lắp dựng kéo dài mà không cần thay đổi dây chuyền sản xuất.

5. Luồng lập trình đơn giản, giao diện rất đơn giản. Hỗ trợ sửa đổi hàng loạt các tham số bằng một phím.

6. Kiểm soát tập trung. Kết nối giữa nhiều thiết bị.

7. Kiểm tra thời gian thực mà không dừng bảng.

8. Dễ dàng di chuyển, có thể điều chỉnh chiều cao và chiều rộng.

9. Xác định vị trí lỗi nhanh chóng và có thể kiểm soát dây chuyền sản xuất.

10.PCBA kích thước: Tối đa 400*300mm (12MP) / Tối đa 520*380mm (31MP) Nhiều tùy chọn có thể lựa chọn.

11.Dữ liệu có thể truy nguyên được. Hỗ trợ cảnh báo SPC, chức năng thu thập và lưu trữ LOG tự động, chức năng cảnh báo/cảnh báo NG, lập trình và gỡ lỗi từ xa.

Tốc độ kiểm tra nhanh

1.I.C.T AOI Quy hoạch đường đi thuật toán di truyền

2.Số lượng FOV ít hơn, Bỏ qua các vị trí không có mối hàn một cách thông minh. Giảm số lượng FOV và nâng cao hiệu quả

3. Đường dẫn chụp ảnh ngắn hơn. Giảm bỏ qua FOV nhịp độ lớn để tiết kiệm thời gian hơn nữa.

4. Vị trí hình ảnh phù hợp hơn, Tránh mối hàn ở khớp FOV để đảm bảo kết quả kiểm tra.

5. Xử lý song song hình ảnh GPU, Tốc độ chạy dữ liệu nhanh hơn.

1.Camera tự động đọc mã (mã vạch và mã QR).

2. Dữ liệu đầy đủ, bao gồm dữ liệu thống kê tổng thể và tất cả thông tin kiểm tra của từng bảng được kiểm tra.

3. Hỗ trợ xuất một phím, thuận tiện cho việc truy nguyên. Dữ liệu có thể được áp dụng hiệu quả trong hệ thống MES.

Thông số kỹ thuật của Hệ thống quang học kiểm tra hai mặt trực tuyến DIP AOI: