Các khuyết tật ẩn trong mối hàn là nguyên nhân hàng đầu gây ra hư hỏng hiện trường trong các thiết bị điện tử có độ tin cậy cao. AOI truyền thống, ICT và kiểm tra thủ công không thể phát hiện các khoảng trống, cầu nối, HiP hoặc khả năng làm ướt kém. Chỉ kiểm tra bằng tia X có độ phân giải cao—bao gồm CT 2D, 2,5D và 3D—mới có thể xác định một cách đáng tin cậy những vấn đề nghiêm trọng này. Các hệ thống X-7100, X-7900 và X-9200 của ICT cung cấp độ phân giải dưới micron, phần mềm thông minh và hỗ trợ toàn cầu, giúp các nhà sản xuất trong lĩnh vực ô tô, y tế, hàng không vũ trụ và 5G giảm thiểu lỗi, cải thiện độ tin cậy và đạt được ROI nhanh chóng.